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WQL粒度儀(微機(jī))

描述:WQL粒度儀(微機(jī))基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。

更新時(shí)間:2024-08-10
產(chǎn)品型號(hào):
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
詳情介紹

    詳細(xì)資料

      WQL粒度儀(微機(jī))詳細(xì)介紹
      WQL粒度儀(微機(jī))基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
      WQL粒度儀(微機(jī))技術(shù)參數(shù)
      轉(zhuǎn)速范圍:600~10000r/min

      光信號(hào)穩(wěn)定性:0.2%/30min

      可測(cè)粒度范圍:0.01~60μm

      測(cè)試準(zhǔn)確度:5% (使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣)

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